Предназначен для выявления структуры металла, снятия тонких слоев, удаления наклепанного слоя и травления образцов.
Виды исследований - оптическая и сканирующая микроскопия
Микропроцессорный контроль - Да
Определение параметров при помощисканирования - Да
Количество методик - 10 фирменных и 20 пользователя